[发明专利]快速响应型超辐射发光二极管自动温度控制方法及其驱动装置

摘要

本发明涉及一种快速响应型超辐射发光二极管自动温度控制方法及其驱动装置，其包括如下步骤：a、微处理器发送扫频信号，获得热敏电阻与热电制冷器的幅频特性曲线；b、，通过递归算法，得到热敏电阻与热电制冷器的串联二阶环节的两级响应时间T1和T2；c、设置微处理器内超前校正环节及控制器的参数；d、微处理器通过光电探测器对SLD管芯的发光功率采样，获得SLD管芯工作时的功率-电压曲线，校验微处理器内设置的超前校正环节及控制器参数；当微处理器内超前校正环节与控制器参数设置检验匹配时，SLD管芯正常工作，否则，微处理器调整超前校正环节与控制器的设置参数。本发明稳定性高，通用性强，无稳态误差，响应速度快。

主权项

一种快速响应型超辐射发光二极管自动温度控制方法，其特征是，所述超辐射发光二极管自动温度控制方法包括如下步骤：（a）、启动阶段，微处理器（3）经第一D/A转换器（4）向热电制冷器（83）发送扫频信号，使热电制冷器（83）产生相应的制冷量；利用温度采样电路（12）采集热敏电阻（82）的温度‑电压信号，获得热敏电阻（82）与热电制冷器（83）的幅频特性曲线；（b）、根据上述获得的幅频特性曲线，通过递归算法，得到热敏电阻（82）与热电制冷器（83）的串联二阶环节的两级响应时间T1和T2；（c）、根据获得的热敏电阻（82）的响应时间T1及热电制冷器（83）的响应时间T2，设置微处理器（3）内超前校正环节（20）及控制器（15）的参数；（d）、微处理器（3）通过光电探测器（10）对SLD管芯（81）的发光功率采样，获得SLD管芯（81）工作时的功率‑电压曲线，根据所获得的功率‑电压曲线的振荡，来校验微处理器（3）内设置的超前校正环节（20）及控制器（15）参数；当微处理器（3）内超前校正环节（20）与控制器（15）参数设置检验匹配时，SLD管芯（81）正常工作，否则，微处理器（3）调整超前校正环节（20）与控制器（15）的设置参数。