[发明专利]LED芯片颗粒老化检测装置无效

专利信息
申请号: 201110292603.X 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102508139A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 朱纪军;洪思忠;宋召海;左敦稳;张微微;孙姝婧;邓文凤;于航;朱琳 申请(专利权)人: 滨州市甘德电子科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司 32218 代理人: 瞿网兰
地址: 256600 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种LED芯片颗粒老化检测装置,它包括PCB电路板(1)和LED灯罩(3),LED芯片颗粒(8)安装在LED灯罩(3)中并与PCB电路板(1)电气连接,其特征是在所述的LED灯罩(3)安装在密封的老化装置壳体(11)中,在LED芯片颗粒(8)的两侧各设有一个测温热电偶(2,7),在LED芯片颗粒(8)与PCB电路板(1)之间安装有测温热电偶(12),在壳体(1)中、LED灯罩(3)正对LED芯片颗粒(8)的正上方安装有光照度检测仪(5),在壳体(11)中还安装有热风装置(4),所述的PCB电路板(1)、测温热电偶(2,7,12)、光照度检测仪(5)和热风装置(4)均通过数据总线(9)与计算机(10)相连。本发明解决了市场急需,为LED颗粒快速老化提供了检测手段,它具有结构简单,制造、检测方便的优点。
搜索关键词: led 芯片 颗粒 老化 检测 装置
【主权项】:
一种LED芯片颗粒老化检测装置,它包括PCB电路板(1)和LED灯罩(3),LED芯片颗粒(8)安装在LED灯罩(3)中并与PCB电路板(1)电气连接,其特征是在所述的LED灯罩(3)安装在密封的老化装置壳体(11)中,在LED芯片颗粒(8)的两侧各设有一个测温热电偶(2,7),在LED芯片颗粒(8)与PCB电路板(1)之间安装有测温热电偶(12),在壳体(1)中、LED灯罩(3)正对LED芯片颗粒(8)的正上方安装有光照度检测仪(5),在壳体(11)中还安装有热风装置(4),所述的PCB电路板(1)、测温热电偶(2,7,12)、光照度检测仪(5)和热风装置(4)均通过数据总线(9)与计算机(10)相连。
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