[发明专利]AlGaN/GaN太赫兹量子级联激光器有源区结构的模拟设计方法无效

专利信息
申请号: 201110293435.6 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102508940A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 张迪;赵立萍;孙文军;孙京南;李孟洋;支洪武;李娟 申请(专利权)人: 哈尔滨师范大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;H01S5/343
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 金永焕
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: AlGaN/GaN太赫兹量子级联激光器有源区结构的模拟设计方法,它涉及太赫兹量子级联激光器有源区结构的模拟设计方法。方法:一、确定一维有效质量薛定谔方程中所需的参数;二、求解薛定谔方程;三、计算ΔE21、ΔE32、和ΔE1′3;四、判断;五、搜索最佳结构;六、输出结构。本发明的有源区由n个周期构成,每个周期由三个势垒层和三个势阱层构成。本发明能够应用于太赫兹量子级联激光器有源区的设计上。本发明的优点在于充分利用纵向光学声子散射原理与隧穿原理,同时可以搜索出最佳的有源区结构。
搜索关键词: algan gan 赫兹 量子 级联 激光器 有源 结构 模拟 设计 方法
【主权项】:
1.AlGaN/GaN太赫兹量子级联激光器有源区结构的模拟设计方法,其特征在于,实现该方法的步骤如下:步骤一、确定一维有效质量薛定谔方程中所需的参数:含有效质量的薛定谔方程为-h22ddz(1m*(z)dψidz)+[ΔU+eFz]ψi=Eiψi]]>其中的z为材料的生长方向,Ei为电子的第i个本征能量,ψi为与Ei相对应的电子波函数,m*(z)为电子的有效质量,在量子阱GaN中m*(z)为而在势垒AlGaN中m*(z)为其中x为AlGaN中Al的原子百分含量;其中的ΔU为两种半导体材料的导带势能偏移量,F为外加电场与内建电场强度的总和;步骤二、求解薛定谔方程:设定有源区单周期的初始结构,同时设定步骤一中所涉及的参数m0、e、ε0、a0、x、Eg(0)、F0;利用MATLAB软件编程求解出有源区双周期中各势阱所对应的电子能级和波函数,求解出的电子能级为各势阱中电子的第一量子能级;步骤三、计算ΔE21、ΔE32和ΔE1′3:电子的第2个本征能量与电子的第1个本征能量的能级差ΔE21ΔE21=E2-E1;电子的第3个本征能量与电子的第2个本征能量的能级差ΔE32ΔE32=E3-E2;电子的第1′个本征能量减去电子的第3个本征能量的能级差ΔE1′3ΔE1′3=E1′-E3;步骤四、判断:若步骤三中求得各势阱中电子的能级之间满足92meV≥ΔE21≥90meV且2meV≥ΔE1′3≥0meV,即所求解的有源区结构满足受激辐射原理;步骤五、搜索最佳结构:设定有源区结构中每层的厚度变化范围,外加电场F0的变化范围,Al的百分含量x的变化范围;运行程序,搜索出满足步骤四并且同时满足ΔE21=min和ΔE1′3=min的有源区结构,即该结构为最佳有源区结构;步骤六、输出结构:运行程序,输出满足步骤四及步骤五的有源区结构,同时输出结构所对应的Al的原子百分含量x,外加电场强度F0,辐射波长及频率;即完成AlGaN/GaN太赫兹量子级联激光器有源区结构的模拟设计。
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