[发明专利]半导体电路、半导体器件及布线异常诊断方法有效
| 申请号： | 201110293717.6 | 申请日： | 2011-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102455398A | 公开（公告）日： | 2012-05-16 |
| 发明（设计）人： | 井上和俊 | 申请（专利权）人： | OKI半导体株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;阎文君 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体电路、半导体器件及布线异常诊断方法。使电压施加部(24)的开关(SW5)处于接通状态，向布线(27)供给电压VCC，测量电池单元(C4)的输出电压Vout，如果输出电压Vout＝0V，则判断为布线(V4～V3)之间发生短路，如果输出电压Vout≠0V，则判断为布线(V4)断线。使电压施加部(26)的开关(SW6)处于接通状态，向布线(27)供给电压VREF，测量电池单元(C1)的输出电压Vout，如果输出电压Vout＝0V，则判断为布线(V1～V0)之间发生短路，如果输出电压Vout≠0V，则判断为布线(V1)断线。从而，能够对与电池有关的布线的断线以及短路进行准确的诊断。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 电路 半导体器件 布线 异常 诊断 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体电路，其特征在于，具备：选择电路，其与串联连接的多个电池的每一个连接，并且选择多个电池中的任意一个；差值检测电路，其被输入了由上述选择电路选择的电池的高电位侧的高电位电压，且被输入电压值比由上述选择电路选择的电池的上述高电位电压低的低电位侧的低电位电压，并且，输出上述高电位电压与上述低电位电压之差；电压施加单元，其进行上述多个电池中由上述选择电路选择的最前级的电池或者最后级的电池有关的布线的异常诊断时，将异常诊断用电压施加到用于将上述高电位电压输入到上述差值检测电路的布线。
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