[发明专利]光学式检测装置、电子设备及光学式检测方法有效
| 申请号： | 201110293787.1 | 申请日： | 2011-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102467300A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 清濑摄内 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/042 | 分类号： | G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;王轶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光学式检测装置、电子设备及光学式检测方法，所述光学式检测装置具备：照射部，向沿着面状区域的区域照射照射光；第一及第二受光部，接受被对象物反射的照射光的反射光；以及运算部，基于第一及第二受光部中至少一方的受光结果，运算对象物的位置信息；第一受光部与面状区域之间的距离比第二受光部与面状区域之间的距离小，第一及第二受光部接受从沿着面状区域的方向入射的反射光。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 装置 电子设备 方法 | ||
【主权项】：
一种光学式检测装置，其特征在于，具备：照射部，照射照射光；第一及第二受光部，接受被对象物反射后的所述照射光的反射光；以及运算部，基于所述第一及第二受光部中至少一方的受光结果，运算所述对象物的位置信息；所述第一及第二受光部接受从沿着面状区域的方向入射的所述反射光，所述第二受光部与所述面状区域的距离比所述第一受光部与所述面状区域的距离短。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社，未经精工爱普生株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110293787.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：信息处理设备和方法、信息处理系统及程序
- 下一篇：日历显示装置及日历表
