[发明专利]一种高场强下金属化膜电容器绝缘电阻测量方法及装置有效
申请号: | 201110299451.6 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN102435852A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | 李化;林福昌;陈耀红;李智威;吕霏;章妙;刘德 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开一种金属化膜电容器绝缘电阻测量方法和装置,该方法将电容器置于恒温恒湿环境下,对电容器串接一兆欧级采样电阻RS,再对电容器和采样电阻施加直流高压,通过直流高压下采样电阻和电容器的分压比计算出高场强下金属化膜电容器的绝缘电阻。本发明还提供实现上述方法的装置,主要包括恒温恒湿箱、电容测量仪、直流高压耐压仪、兆欧级采样电阻、直流高压分压器和高压探头。本发明能准确测量高场强下金属化膜电容器的绝缘电阻,解决了常规绝缘电阻测量仪输出电压大小有限、耐压时间不足和绝缘电阻测量不稳定等缺点。 | ||
搜索关键词: | 一种 场强 金属化 电容器 绝缘 电阻 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种高场强下金属化膜电容器绝缘电阻测量方法及装置:将电容器置于恒温恒湿环境下,对电容器串接一兆欧级采样电阻RS,再对电容器和采样电阻施加直流高压,进入稳态后测量采样电阻的电压US和直流高压实际值U0,计算电容器绝缘电阻
RG为测量采样电阻电压US所采用的高压探头的输入电阻。
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