[发明专利]绝缘体上硅器件有效

专利信息
申请号: 201110300470.6 申请日: 2011-09-28
公开(公告)号: CN102339836A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 李乐 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L23/58
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种绝缘体上硅器件,其在内部设置了一用作屏蔽层的导电层,使集成电路内部的非线性可变寄生电容变为恒定寄生电容。进一步地,所述绝缘体上硅器件还在内部设置一深度增大的STI隔离区从而使该寄生电容值减小。当绝缘体上硅器件工作时,施加于器件上的射频信号会尽可能少的从该寄生电容泄露,且得到的射频信号为线性信号,符合射频设备的使用要求。
搜索关键词: 绝缘体 器件
【主权项】:
一种绝缘体上硅器件,其特征在于,包括:绝缘体上硅衬底(20),包括硅基板(21)、形成于所述硅基板(21)上的埋入氧化层(22)、形成于所述埋入氧化层(22)上的硅层(23),所述硅层(23)内设有源区(231)、漏区(232)及用于隔绝所述源区(231)、漏区(232)的STI隔离区(233);所述STI隔离区(233)的上方设有适于用作金属互连线的金属层(24);所述STI隔离区(233)上覆盖有一层接地的导电层(26);所述金属层(24)与所述导电层(26)之间设有介质层(25)。
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