[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 201110301070.7 | 申请日: | 2011-08-31 |
公开(公告)号: | CN102693983A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 川口雄介 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L27/105 | 分类号: | H01L27/105 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的实施方式提供一种半导体装置,其具备:第一导电型的漏极层;从上述第一导电型的漏极层的表面直到内部地设置为沟槽状的第一导电型的漂移区域;从上述漂移区域的表面直到内部地设置为沟槽状的第二导电型的衬底区域;从上述衬底区域的表面直到内部地设置为沟槽状的第一导电型的源极区域;沿与上述漏极层的背面大致平行的方向、在从上述源极区域的一部分贯穿与上述源极区域的上述一部分邻接的衬底区域而到达上述漂移区域的一部分的第一沟槽内,隔着栅极绝缘膜而设置的栅极电极;在从上述漏极层的表面直到内部地设置的至少一个第二沟槽内,隔着第一绝缘膜而设置的第一电阻体层;与上述漏极层连接的漏极电极;以及与上述源极区域及上述衬底区域连接的源极电极。上述第一电阻体层与上述源极电极电连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具备:第一导电型的漏极层;从所述第一导电型的漏极层的表面直到内部地设置为沟槽状的第一导电型的漂移区域;从所述漂移区域的表面直到内部地设置为沟槽状的第二导电型的衬底区域;从所述衬底区域的表面直到内部地设置为沟槽状的第一导电型的源极区域;沿与所述漏极层的背面大致平行的方向,在从所述源极区域的一部分贯穿与所述源极区域的所述一部分邻接的衬底区域而到达所述漂移区域的一部分的第一沟槽内,隔着栅极绝缘膜而设置的栅极电极;在从所述漏极层的表面直到内部设置的至少一个第二沟槽内,隔着第一绝缘膜而设置的第一电阻体层;与所述漏极层连接的漏极电极;以及与所述源极区域及所述衬底区域连接的源极电极;所述第一电阻体层与所述源极电极电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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