[发明专利]用于绕流流场横截面全流场的PIV检测装置无效

专利信息
申请号: 201110303929.8 申请日: 2011-10-10
公开(公告)号: CN102445321A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 徐惊雷;郭锐;马静;顾瑞;莫建伟;张堃元 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01M10/00 分类号: G01M10/00;G01P5/20
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 彭英
地址: 210016*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于绕流流场横截面全流场的PIV检测装置,包括PIV片光发生装置、PIV数据分析处理装置、CCD摄像机以及流场,所述流场内安装有绕流成形试验件,所述绕流成形试验件的横轴线中心部位同轴安装光学玻璃片,且PIV片光发生装置所发出的片光平面以及CCD摄像机的法线方向均穿过绕流成形试验件的横轴线中心。由此可知:本发明在在一次PIV实验中,可以同时获取绕流流场横截面全流场的数据,避免现有技术因采用多次测量数据“拼接”的方式导致绕流全流场数据失真,从而影响了PIV技术的测量精度。
搜索关键词: 用于 流流 横截面 全流场 piv 检测 装置
【主权项】:
一种用于绕流流场横截面全流场的PIV检测装置,包括PIV片光发生装置、PIV数据分析处理装置、CCD摄像机以及流场,其特征在于:所述流场内安装有绕流成形试验件,所述绕流成形试验件的横轴线中心部位同轴安装光学玻璃片,且PIV片光发生装置所发出的片光平面以及CCD摄像机的法线方向均穿过绕流成形试验件的横轴线中心。
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