[发明专利]磁共振成像装置有效

专利信息
申请号: 201110305104.X 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102440778A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 高井博司 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 孙蕾
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 实施方式的磁共振成像装置,具备数据收集单元、相位校正量计算单元以及图像数据生成单元。数据收集单元根据半傅里叶成像用的摄像条件收集三维k空间中的磁共振信号。相位校正量计算单元将比上述三维k空间中的磁共振信号少的磁共振信号作为用于求出第一相位校正量的k空间数据,对上述三维k空间中的磁共振信号执行如下处理:该处理包括基于用于求出上述第一相位校正量的k空间数据的相位校正、以及利用k空间的复对称性对非采样区域进行的数据填补,由此,求出上述第一相位校正量。图像数据生成单元对上述三维k空间中的磁共振信号执行如下处理:该处理包括使用了基于上述第一相位校正量的第二相位校正量的相位校正、上述数据填补以及图像重建处理,由此生成磁共振图像数据。
搜索关键词: 磁共振 成像 装置
【主权项】:
一种磁共振成像装置,该磁共振成像装置具备:数据收集单元,根据半傅里叶成像用的摄像条件,收集三维k空间中的磁共振信号;相位校正量计算单元,将比上述三维k空间中的磁共振信号少的磁共振信号作为用于求出第一相位校正量的k空间数据,对上述三维k空间中的磁共振信号执行如下处理:该处理包括基于用于求出上述第一相位校正量的k空间数据的相位校正、以及利用了k空间的复对称性对非采样区域进行的数据填补,由此,求出上述第一相位校正量;以及图像数据生成单元,对上述三维k空间中的磁共振信号执行如下处理:该处理包括使用了基于上述第一相位校正量的第二相位校正量的相位校正、上述数据填补以及图像重建处理,由此,生成磁共振图像数据。
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