[发明专利]利用抑制烧结积层陶瓷电容器改善电容温度特性与可靠度在审
申请号: | 201110308527.7 | 申请日: | 2011-10-12 |
公开(公告)号: | CN103050280A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 李文熙 | 申请(专利权)人: | 李文熙 |
主分类号: | H01G4/30 | 分类号: | H01G4/30;H01G4/12;C04B35/49;C04B35/64 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 李志东 |
地址: | 中国台湾台南*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明利用(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3为主要介电材料,用抑制烧结来改变(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3的微结构,开发出非壳核结构的高温度稳定性与高可靠性介电质。(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3基材在烧结时晶粒成长受到抑制,进而在(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3介电质被抑制烧结,得到较小平均晶粒分布所形成的,进而达到电容器的低电容值温度系数与高可靠度等特性。 | ||
搜索关键词: | 利用 抑制 烧结 陶瓷 电容器 改善 电容 温度 特性 可靠 | ||
【主权项】:
一种电容烧结的方法,其包括步骤:提供第一生坯,其中所述第一生坯包含金属层以及YZOX层,其中Y为选自IIA族中的一或多个元素、Z为选自IV族中的一或多个元素、X为约3;在所述第一生坯上形成第二生坯;以及同时加热所述第一生坯及第二生坯至特定温度,其中所述特定温度能使得第一生坯完成烧结。
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