[发明专利]一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法有效

专利信息
申请号: 201110309975.9 申请日: 2011-10-13
公开(公告)号: CN103048649A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 洪文;张冰尘;吴一戎;田野 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法,涉及雷达成像技术,根据稀疏微波成像雷达原理,建立以信噪比、稀疏度和采样比为坐标轴的雷达成像性能相变图;借用相变曲面刻画出稀疏微波成像雷达性能随信噪比、稀疏度和采样比的变化趋势;并利用该边界曲面将相变图划分为可重建区域和不可重建区域,从而定量分析得出稀疏微波成像雷达性能。本发明方法采用正确重建率和相对均方误差作为判别标准,大大降低了计算量,为稀疏微波成像雷达性能分析提供了一种高效评估方法。
搜索关键词: 一种 基于 相变 分析 稀疏 微波 成像 雷达 性能 评估 方法
【主权项】:
一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法,其特征在于,包括步骤:a)针对稀疏微波成像雷达机理,将信噪比引入分析图中建立以信噪比、稀疏度和采样比为坐标轴的雷达成像性能相变图;b)分别计算不同信噪比、稀疏度和采样比的条件下,稀疏微波成像雷达性能随这三维变量的变化趋势,绘制三维分析图;c)在满足雷达图像性能,符合观测要求的情况下选取正确重建阈值,采用曲面拟合的方法绘制相变曲面,用相变边界衡量雷达成像性能;d)利用边界曲面将相变图划分为可重建区域和不可重建区域,比较可重建区域大小,定量分析稀疏微波成像雷达性能。
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