[发明专利]一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法有效
申请号: | 201110309975.9 | 申请日: | 2011-10-13 |
公开(公告)号: | CN103048649A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 洪文;张冰尘;吴一戎;田野 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法,涉及雷达成像技术,根据稀疏微波成像雷达原理,建立以信噪比、稀疏度和采样比为坐标轴的雷达成像性能相变图;借用相变曲面刻画出稀疏微波成像雷达性能随信噪比、稀疏度和采样比的变化趋势;并利用该边界曲面将相变图划分为可重建区域和不可重建区域,从而定量分析得出稀疏微波成像雷达性能。本发明方法采用正确重建率和相对均方误差作为判别标准,大大降低了计算量,为稀疏微波成像雷达性能分析提供了一种高效评估方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 相变 分析 稀疏 微波 成像 雷达 性能 评估 方法 | ||
【主权项】:
一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法,其特征在于,包括步骤:a)针对稀疏微波成像雷达机理,将信噪比引入分析图中建立以信噪比、稀疏度和采样比为坐标轴的雷达成像性能相变图;b)分别计算不同信噪比、稀疏度和采样比的条件下,稀疏微波成像雷达性能随这三维变量的变化趋势,绘制三维分析图;c)在满足雷达图像性能,符合观测要求的情况下选取正确重建阈值,采用曲面拟合的方法绘制相变曲面,用相变边界衡量雷达成像性能;d)利用边界曲面将相变图划分为可重建区域和不可重建区域,比较可重建区域大小,定量分析稀疏微波成像雷达性能。
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