[发明专利]一种基于支持向量回归的多测点平面度评定方法有效
| 申请号： | 201110311170.8 | 申请日： | 2011-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN102445174A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 刘桂雄;姜焰鸣;陈佳异 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人： | 魏殿绅 |
| 地址： | 510640 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于支持向量回归的多测点平面度评定方法，包括：对被测平板表面的点进行采样，获取各点的三坐标测量值；对原始测量点进行预处理，通过计算测量点集的三维凸壳，剔除凸壳内的测量点，保留凸壳上的测量点；采用支持向量回归法——ε-SVR求出测量点集的最小包容区域平面，其对应的包容区域宽度即为所求平面度。通过本发明可以减少多测点平面度评定中的计算数据量，提高计算效率和评定结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 支持 向量 回归 多测点 平面 评定 方法 | ||
【主权项】：
一种基于支持向量回归的多测点平面度评定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：对被测平板表面的点进行采样，获取各点的三维坐标测量值；对测量点进行预处理，计算所有测量点对应的三维凸壳，剔除凸壳内的测量点，保留凸壳上的测量点；采用支持向量回归法——ε‑SVR求出测量点集的最小包容区域平面；计算各测量点到最小包容区域平面的距离，最大距离与最小距离之差为所求平面度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学，未经华南理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110311170.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：独立式同步轨道交通
- 下一篇：冰箱门组件及具有它的冰箱
