[发明专利]一种频率偏差与相位偏差的联合测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种频率偏差与相位偏差的联合测量方法及装置。本发明在对移动通信终端进行测试过程中，不考虑多用户干扰的情况下，提供了一种基于矩阵预处理机制的频偏和相偏联合测量方法，其利用预先构造的结构矩阵，对其进行经济型的简化QR分解，并以之求采样数值曲线的回归线最小二乘解，从而得到频率偏差和相位偏差的最优解。采用本发明可实现频率偏差与相位偏差的联合测量，且与现有技术相比具有更高算法效率和更强的适用性。

主权项

1.一种频率偏差与相位偏差的联合测量方法，其特征在于，该方法包括：测试设备对被测移动终端的发射信号进行高倍采样，并对每一路单倍采样点执行以下处理：计算当前采样点中I、Q采样信号调制后的实测相位曲线根据所述实测相位曲线和预置相位表生成对应的参考相位曲线φ_refi；根据所述实测相位曲线和对应的参考相位曲线，得到当前采样点的总的相位偏差φ_ei＝φ_i-φ_refi；利用各采样点的相位偏差组成的列向量[φ_e1，φ_e2，...，φ_eN]^T构造一元拟合矩阵方程y_N×1＝V_N×2×P_2×1，并通过简化的QR分解求构造矩阵方程的最小二乘解，得到拟合因子向量P_2×1；其中，y_N×1＝[φ_e1，φ_e2，...，φ_eN]^T，V=1121......N1N×2,]]>P=P1P22×1;]]>根据拟合因子向量P_2×1得到当前采样点的频率偏差与相位偏差；其中，i表示采样点的序列号，N为采样点单倍数据的长度。