[发明专利]永磁体表面磁场强度的检测装置及检测方法无效

专利信息
申请号: 201110319149.2 申请日: 2011-10-19
公开(公告)号: CN102435964A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 程星华;郭炳麟 申请(专利权)人: 安泰科技股份有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 郭鸿禧;张军
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种永磁体表面磁场强度的检测装置及检测方法。所述检测装置包括C型软磁材料零件、传送轨道和霍尔探头,其中,永磁体通过传送轨道输送到C型软磁材料零件的开口处,霍尔探头设置在被测永磁体与C型软磁材料零件所形成的气隙中。所述方法包括将永磁体放置在C型软磁材料零件的开口处,使永磁体与C型软磁材料零件之间形成气隙,并在气隙中形成均匀磁场,利用霍尔探头测量该磁场强度。采用本发明的检测装置和检测方法,可以方便快速进行永磁体的表面磁场强度测量,测量的数据与永磁体实际工作状态接近。同时测量方便、效率高,准确性好,可以应用到批量产品的磁感应强度的检测中。
搜索关键词: 永磁体 表面 磁场强度 检测 装置 方法
【主权项】:
一种永磁体的磁场强度的检测方法,所述方法包括:将永磁体放置在C型软磁材料零件的开口处,使永磁体与C型软磁材料零件之间形成气隙,并在气隙中形成均匀磁场,利用霍尔探头测量该磁场强度。
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