[发明专利]光学侦测装置及光学量测系统有效
| 申请号： | 201110320395.X | 申请日： | 2011-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN103063588A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 陈昭铭 | 申请（专利权）人： | 建兴电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 中国台湾台北市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学侦测装置及光学量测系统，该光学侦测装置适于量测一样本。光学侦测装置包括多个发光单元、一收光单元、驱动单元以及分析单元。各发光单元适于发出一光束。收光单元适于接收穿过样本的光束并将穿过样本的光束转换为电信号。驱动单元适于改变发光单元与样本的相对位置。分析单元与收光单元电性连接且适于利用电信号量测样本的性质。收光单元的数量少于发光单元的数量。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 侦测 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种光学侦测装置，适于量测一样本，该光学侦测装置包括：多个发光单元，各发光单元适于发出一光束；至少一收光单元，适于接收穿过该样本的该光束并将穿过该样本的该光束转换为一电信号；一驱动单元，适于改变各该发光单元与该样本的相对位置；以及一分析单元，与该收光单元电性连接且适于利用该电信号量测该样本的性质，其中该收光单元的数量少于所述发光单元的数量。
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