[发明专利]一种月表尘埃累积质量的在轨测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201110321508.8 申请日: 2011-10-20
公开(公告)号: CN102435664A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 王锡来;王鹢;姚日剑 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
主分类号: G01N27/60 分类号: G01N27/60;G01G17/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 杨志兵;李爱英
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明涉及一种月表尘埃累积质量的在轨测量装置和方法,属测试领域。所述测量装置包括模拟太阳光源、全反射镜面、太阳能电池片、样品台、负载电阻、电压表、样品台角度刻度盘和支持结构。所述测量方法包括地面模拟月球尘埃累积质量试验和实际监测试验,根据电流数据获取时的太阳光入射角度θ,将实际监测到的月球表面太阳能电池输出电流随时间变化与地面模拟月球尘埃累积质量试验得到的曲线进行对比,得到实际月球尘埃累积质量随时间变化的曲线。
搜索关键词: 一种 尘埃 累积 质量 测量 装置 方法
【主权项】:
一种月表尘埃累积质量的测量装置,其特征在于:所述装置包括模拟太阳光源(2)、全反射镜面(1)、太阳能电池片(3)、样品台(6)、负载电阻(4)、电压表(5)、样品台角度刻度盘(7)和支持结构;其中样品台(6)为横U形支架,有上下两个侧壁,太阳能电池片(3)放置在上侧壁的上表面,所述上侧壁可在垂直方向转动,转动角度为0~90°;用于测量样品台转动角度θ的样品台角度刻度盘(7)固定在样品台(6)上侧壁的下表面,从样平台角度刻度盘(7)读出样品台(6)与水平面夹角θ,样品台角度刻度盘(7)的最小刻度为2.5°;支持结构支撑全反射镜面(1),全反射镜面(1)位于太阳能电池片(3)正上方,与水平面的夹角为45°,模拟太阳光源(2)水平射出的光到达全反射镜面(1)后又反射到太阳能电池片(3)上;负载电阻(4)和电压表(5)分别与太阳能电池片(3)并联。
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