[发明专利]量测装置及其量测方法无效
| 申请号： | 201110322575.1 | 申请日： | 2011-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN103063294A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 孙庆成;余业纬;陈彦霖;陈玮鑫 | 申请（专利权）人： | 中央大学 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 中国台湾桃*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种量测装置用以量测一待测物，并包括至少一个屏幕、至少一个量测单元以及至少一个保持单元。屏幕是部分透光，且具有相对的一第一表面及一第二表面，待测物邻设于屏幕的第一表面。量测单元与待测物对应设置，并邻设于屏幕的第二表面。保持单元保持屏幕、待测物及量测单元的相对距离，量测单元撷取屏幕的第二表面的影像，以计算待测物的光场分布。本发明的量测装置可快速量测一待测物的光场分布，并具有成本低及准确度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种量测装置，用以量测一待测物，其特征在于，包括：至少一个屏幕，其部分透光，且具有相对的一第一表面及一第二表面，所述待测物邻设在所述屏幕的所述第一表面；至少一个量测单元，与所述待测物对应设置，并邻设在所述屏幕的所述第二表面；以及至少一个保持单元，保持所述屏幕、所述待测物及所述量测单元之间的相对距离，所述量测单元撷取所述屏幕的所述第二表面的影像，以计算所述待测物的光场分布。
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