[发明专利]一种具有双层电介质电荷捕获层的DC-SONOS存储器及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110322893.8 申请日: 2011-10-21
公开(公告)号: CN103066074A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 石艳玲;刘丽娟;张顺斌;曹刚;陈广龙;沈国飞;张龙 申请(专利权)人: 华东师范大学;上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/792;H01L29/51;H01L21/8247;H01L21/28
代理公司: 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 代理人: 董红曼
地址: 200062 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及半导体电荷捕捉存储器领域,公开了一种具有双层电介质电荷捕获层的DC-SONOS非易失性存储器,包括具有沟道表面的沟道的半导体衬底,与沟道邻近的源端和漏端;栅极;介于栅极和沟道表面之间的介电叠层;以及位于栅极及介电叠层两侧的边墙。介电叠层包括:与沟道表面接触的隧穿层;叠加于隧穿层上方的电荷捕获层;电荷捕获层为双层电介质的复合结构;叠加于电荷捕获层上方的阻挡层,与栅极接触。其中,电荷捕获层包括:与隧穿层接触的第一层电介质,其成分为Si3N4,厚度为1-30Å;邻近第一层的第二层电介质,其成分为SiN,厚度为1-50Å。本发明具有双层电介质电荷捕获层的DC-SONOS存储器改善了传统SONOS非易失性存储器的性能,提高存储器的数据保持特性,有利于获得在工作条件较恶劣下仍保持较高数据保持特性的存储器。
搜索关键词: 一种 具有 双层 电介质 电荷 捕获 dc sonos 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种具有双层电介质电荷捕获层的DC‑SONOS存储器,其特征在于,包括:半导体衬底,包括具有沟道表面的沟道,以及与所述沟道邻近的源端和漏端;栅极;介于所述栅极和所述沟道表面之间的介电叠层;以及位于所述栅极及介电叠层两侧的边墙;其中,所述介电叠层包括:隧穿层,与所述沟道表面接触;叠加于所述隧穿层上方的电荷捕获层;所述电荷捕获层为双层电介质的复合结构;叠加于所述电荷捕获层上方的阻挡层,与所述栅极接触。
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