[发明专利]光学晶体气体检测系统及多孔硅褶皱光学晶体的制备方法有效
| 申请号： | 201110323736.9 | 申请日： | 2011-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN102507452A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 蔡林涛;李莎;黄建峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/01 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种光学晶体气体检测系统，其特征在于，包括多孔硅褶皱光学晶体、测试腔体、探头以及光谱仪，所述多孔硅褶皱光学晶体置于所述测试腔体内，所述多孔硅褶皱光学晶体是简单型的多孔硅褶皱光学晶体或复合型的多孔硅褶皱光学晶体，所述多孔硅褶皱光学晶体表面在所述测试腔体内是裸露的，所述探头用于探测所述多孔硅褶皱光学晶体发出的光学信号，所述光谱仪与探头连接，用于测量所述探头探测到的光学信号。采用测试腔体与多孔硅褶皱光学晶体直接组成的传感系统，无需复杂加工过程、易于实现、成本低、灵敏度高、检测速度快、可重复使用、不存在试剂问题，便于推广应用。此外还提供一种多孔硅褶皱光学晶体的制备方法。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 晶体 气体 检测 系统 多孔 褶皱 制备 方法 | ||
【主权项】：
一种光学晶体气体检测系统，其特征在于，包括多孔硅褶皱光学晶体、测试腔体、探头以及光谱仪，所述多孔硅褶皱光学晶体是简单型的多孔硅褶皱光学晶体或复合型的多孔硅褶皱光学晶体，所述多孔硅褶皱光学晶体置于所述测试腔体内，所述多孔硅褶皱光学晶体表面在所述测试腔体内是裸露的，所述探头用于探测所述多孔硅褶皱光学晶体发出的光学信号，所述光谱仪与探头连接，用于测量所述探头探测到的光学信号。
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