[发明专利]保持部件形状判定装置和方法、基板处理装置和存储介质有效
申请号: | 201110328464.1 | 申请日: | 2011-10-21 |
公开(公告)号: | CN102456601A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 梶原英树;牧准之辅;榎木田卓 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/67 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供能够可靠且容易地检测出保持部件的形状是否存在异常的保持部件的形状判定装置和方法。在使作为保持部件的叉(3A)前进时,按照使该叉(3A)通过其前方的方式,在叉(3A)的行进方向的侧面设置行传感器(4)。在使叉(3A)相对于行传感器(4)进退时,取得使该叉(3A)的上下方向的位置与叉(3A)的进退方向的位置对应的数据。根据该取得的数据,计算上下方向的位置对上述进退方向的位置取二次微分的值,根据该微分值来判定保持部件的形状有无异常。 | ||
搜索关键词: | 保持 部件 形状 判定 装置 方法 处理 存储 介质 | ||
【主权项】:
一种保持部件的形状判定装置,其特征在于:在保持并输送基板的保持部件可自由进退地设置于输送基体的基板输送装置中,所述保持部件的形状判定装置判定所述保持部件有无异常,所述保持部件的形状判定装置包括:光检测部,其按照在使所述保持部件前进时该保持部件通过所述光检测部的前方的方式,相对于保持部件的行进方向设置于侧面,并且以光学方式对该保持部件的上下方向的位置和相对于所述进退方向的左右方向的位置中的至少一方进行检测;和数据取得部,在使所述保持部件相对于所述光检测部进退时,取得使该保持部件的上下方向的位置与保持部件的进退方向的位置对应的数据、和使保持部件的左右方向的位置与保持部件的进退方向的位置对应的数据中的至少一方的数据,根据取得的所述数据来判定所述保持部件的形状是否存在异常。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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