[发明专利]一种形成肖特基二极管的方法有效
| 申请号： | 201110332623.5 | 申请日： | 2011-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN103094100A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 曾爱平;张兴来;陈朝伟;李春霞;陈宇 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/329 | 分类号： | H01L21/329 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体领域，特别涉及一种形成肖特基二极管方法，包括以下步骤：a）提供第一导电类型第一半导体层；b）于第一半导体层中形成第二导电类型保护环,以及多个相互间隔且位于保护环内第二导电类型掩埋区；c)于第一导电类型第一半导体层中形成多个相互间隔的沟槽，所述沟槽位于所述掩埋区之上，单个沟槽的纵截面宽度等于或大于单个掩埋区纵截面宽度；d)于第一导电类型第一半导体层之上和沟槽中形成金属层；e)于金属层上和第一导电类型第一半导体层的背面形成金属电极。本发明肖特基二极管工艺成本和难度低，且导通压降小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 形成 肖特基 二极管 方法 | ||
【主权项】：
一种形成肖特基二极管的方法，其特征在于，包括以下步骤：a）提供第一导电类型第一半导体层；b）于第一半导体层中形成第二导电类型保护环,以及多个相互间隔且位于保护环内第二导电类型掩埋区；c)于第一导电类型第一半导体层中形成多个相互间隔的沟槽，所述沟槽位于所述掩埋区之上，单个沟槽的纵截面宽度等于或大于单个掩埋区纵截面宽度；d)于第一导电类型第一半导体层之上和沟槽中形成金属层；e)于金属层上和第一导电类型第一半导体层的背面形成金属电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
