[发明专利]一种电子整机加速寿命评估方法有效
申请号: | 201110333665.0 | 申请日: | 2011-10-28 |
公开(公告)号: | CN102508957A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 姚军;周秀峰;邓清;张俊;徐明鸽;赵帅帅 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种电子整机加速寿命评估方法,该方法有四大步骤:步骤一:根据各类标准、各类实测试验信息、专家信息,确定产品的先验失效率;步骤二:根据得到的先验失效率,确定次序Dirichlet模型中的参数值;步骤三:产品进行加速寿命试验,根据试验的方式和试验结果,确定出能良好表示试验信息的似然函数;步骤四:由先验信息和似然函数,求出后验分布,得到后验的可靠度和失效率,从而得到电子整机的寿命特征。本发明构思科学,它解决了缺少加速模型和整机样本较少的实际问题,是一种系统级的加速评估方法,对推进产品的评估周期和准确性提供了可靠依据。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子 整机 加速 寿命 评估 方法 | ||
【主权项】:
一种电子整机加速寿命评估方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:步骤一:根据各类标准、各类实测试验信息、专家信息,确定产品的先验失效率;步骤二:根据得到的先验失效率,确定次序Dirichlet模型中的参数值;步骤三:产品进行加速寿命试验,根据试验的方式和试验结果,确定出能良好表示试验信息的似然函数;步骤四:由先验信息和似然函数,求出后验分布,得到后验的可靠度和失效率,从而得到电子整机的寿命特征。
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