[发明专利]扫描测试方法有效
| 申请号： | 201110335659.9 | 申请日： | 2011-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN102435935A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 索鑫 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种扫描测试方法，包括：在第一存储器中按照集成电路中关键节点的次序依次写入与关键节点相对应的扫描测试图形，第一存储器存储地址的顺序与关键节点的次序相匹配，扫描测试图形包括与关键节点相对应的输入图形、与输入图形相对应的标准输出结果；按照第一存储器存储地址的顺序依次将输入图形输入至集成电路中进行扫描测试；获取与输入图形相对应输出结果，将输出结果与标准输出结果进行比较，并将比较结果按照关键节点的次序依次写入第二存储器中，第二存储器存储地址的顺序与关键节点的次序相匹配；基于第二存储器中的比较结果，获知与第二存储器存储地址相对应的集成电路中关键节点是否处于正常工作状态。本发明可以降低扫描测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种扫描测试方法，其特征在于，包括：在第一存储器中按照集成电路中关键节点的次序依次写入与关键节点相对应的扫描测试图形，所述第一存储器存储地址的顺序与所述关键节点的次序相匹配，所述扫描测试图形包括与关键节点相对应的输入图形、与所述输入图形相对应的标准输出结果；按照第一存储器存储地址的顺序依次将输入图形输入至集成电路中进行扫描测试；获取与所述输入图形相对应输出结果，将所述输出结果与标准输出结果进行比较，并将所述比较结果按照集成电路中关键节点的次序依次写入第二存储器中，所述第二存储器存储地址的顺序与所述关键节点的次序相匹配；基于所述第二存储器中的比较结果，获知与所述第二存储器存储地址相对应的集成电路中关键节点是否处于正常工作状态。
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