[发明专利]毫米波成像扫描检测系统及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201110337621.5 申请日: 2011-10-31
公开(公告)号: CN102508307A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 金雷;时华峰;于文龙;余菲;刘文权 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G01V3/12 分类号: G01V3/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种毫米波成像扫描检测系统,包括点聚焦透镜天线,用于将毫米波信号集中在所检测人体所在区域和收集反射回的毫米波信号;毫米波信号收发一体机,用于生成并发送人体扫描成像所需要的毫米波信号,接收并处理点聚焦透镜天线收集的反射回的毫米波信号;数据采集和处理模块,用于对毫米波信号收发一体机接收并处理的毫米波信号进行采样,将模拟信号转换成数字信号,并对转换后的数字信号进行处理;以及二维扫描平台,用于安装并带动点聚焦透镜天线和毫米波收发一体机沿正交的二维方向移动。上述毫米波成像扫描检测系统结构简单,稳定性高,成本投入低。此外,还提供了一种毫米波成像扫描检测系统的检测方法。
搜索关键词: 毫米波 成像 扫描 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
一种毫米波成像扫描检测系统,其特征在于,包括:点聚焦透镜天线,用于将毫米波信号集中在所检测人体所在区域和收集反射回的毫米波信号;毫米波信号收发一体机,与所述点聚焦透镜天线相连,用于生成并发送人体扫描成像所需要的毫米波信号,接收并处理所述点聚焦透镜天线收集的反射回的毫米波信号;数据采集和处理模块,与所述毫米波信号收发一体机相连,用于对所述毫米波信号收发一体机接收并处理的毫米波信号进行采样,将模拟信号转换成数字信号,并对转换后的数字信号进行处理;以及二维扫描平台,用于安装并带动所述点聚焦透镜天线和所述毫米波收发一体机沿正交的二维方向移动。
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