[发明专利]晶圆承载装置及具有它的半导体处理设备有效
申请号: | 201110338680.4 | 申请日: | 2011-10-31 |
公开(公告)号: | CN103094166A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 管长乐 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/67 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋合成 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种晶圆承载装置和具有它的半导体处理设备,晶圆承载装置包括卡盘,卡盘包括移动部和具有中空腔的卡盘本体,且卡盘本体的顶壁设有第一通孔,移动部容纳在中空腔内,移动部的上表面设有与第一通孔对应的凸出部;托盘,托盘设在卡盘本体上,托盘设有与第一通孔对应且用于容纳晶圆的第二通孔,其中第二通孔的上端的直径大于晶圆直径且第二通孔的下端的直径小于晶圆直径;和升降组件,升降组件与卡盘的移动部相连用于驱动移动部在中空腔内升降以使凸出部与晶圆接触或脱离。根据本发明实施例的晶圆承载装置,通过卡盘的移动部对晶圆进行直接温度控制,从而可以快速且有效地控制晶圆的温度,提高晶圆的温度均匀性,提升工艺效果。 | ||
搜索关键词: | 承载 装置 具有 半导体 处理 设备 | ||
【主权项】:
一种晶圆承载装置,其特征在于,包括:卡盘,所述卡盘包括:卡盘本体,所述卡盘本体内具有中空腔,且所述卡盘本体的顶壁设有第一通孔;和移动部,所述移动部容纳在所述中空腔内,所述移动部的上表面设有与所述第一通孔对应的凸出部;托盘,所述托盘设在所述卡盘本体上,所述托盘设有与所述第一通孔对应且用于容纳晶圆的第二通孔,其中所述第二通孔的上端的直径大于所述晶圆的直径且所述第二通孔的下端的直径小于所述晶圆的直径;及升降组件,所述升降组件与所述移动部相连用于驱动所述移动部在所述中空腔内升降以使所述凸出部与所述晶圆接触或脱离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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