[发明专利]用于校准多轴计量系统的几何形状的方法有效
申请号: | 201110339355.X | 申请日: | 2004-11-18 |
公开(公告)号: | CN102519399A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 保罗·墨菲;乔恩·弗里格;格雷格·福布斯 | 申请(专利权)人: | QED国际科技公司 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴敬莲 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法,其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器,并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系,校准机器和嵌入式量具的各个分量,并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤:粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴,并且为转动轴设置标称零点;将嵌入式量具主机架对准机器轴线;将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上;如此对准之后,确定转动轴之间的空间偏移;精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴;以及为转动轴设置精确的零点。 | ||
搜索关键词: | 用于 校准 计量 系统 几何 形状 方法 | ||
【主权项】:
一种用于校正和对准计量系统的方法,其中所述计量系统包括多轴机械定位系统和嵌入式波阵面测量量具,以便精确地确定系统的平动轴和转动轴之间的空间关系,所述方法包括下述步骤:a)粗略地对准所述机械定位系统转动轴A,B和C以及所述各自的平动轴Z,Y和X,并且对所述转动轴设置标称零点;b)将所述嵌入式量具的主机架对准所述机械定位系统;c)将所述嵌入式量具对准所述A转动轴(主轴);d)当如此对准时,确定在所述转动轴之间的空间偏移;以及e)精确地对准所述机器转动轴和所述各自的平动轴,以便对所述转动轴设置精确的零点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于QED国际科技公司,未经QED国际科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110339355.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。