[发明专利]一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置及方法有效
| 申请号： | 201110342462.8 | 申请日： | 2011-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN102506720A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 杨晖;郑刚;戴曙光 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/08 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置及方法，氦氖激光器发射的光，通过格林-泰勒棱镜变成垂直方向的线偏振激光；入射线偏振激光经平面镜反射，经透镜聚焦后照射在样品池内的颗粒样品上，被激光束照射的样品颗粒产生的90度方向的散射光依次进入两个正对的小孔；渥拉斯顿棱镜将散射光分解为垂直方向偏振散射光和水平方向偏振散射光；两个光电倍增管分别对两个方向的偏振散射光进行检测，将测得的光信号转换成TTL脉冲电压信号送入数学相关器得到测量直径及长度，相对于目前最普遍的显微镜测量法，是一种无接触式的测量方法，且测量速度快，成本低，操作要求低。相对于拉曼光谱检测法，可同时测量直径及长度，且适用于多壁碳纳米管的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 纳米 直径 长度 散射 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置，其特征在于，氦氖激光器（1）作为光源，发出的光通过格林‑泰勒棱镜（2）变成垂直方向的线偏振激光；入射线偏振激光经平面镜（3）反射，经透镜（4）聚焦后照射在样品池内的颗粒样品上，被激光束照射的样品颗粒产生的90度方向的散射光依次进入两个正对的小孔（6、7）；渥拉斯顿棱镜（8）将散射光分解为垂直方向偏振散射光和水平方向偏振散射光；两个光电倍增管（9、10）分别接收两个方向的偏振散射光，并将测得的光信号转换成TTL脉冲电压信号后送入数学相关器。
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