[发明专利]微小电容的测试方法有效
| 申请号： | 201110342663.8 | 申请日： | 2011-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN102435862A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 马铁华;李新娥;张红艳;张瑜;沈大伟;刘芮君;王亚军 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 | 代理人： | 傅权;张明 |
| 地址： | 030051 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明公开的微小电容的测试方法属电容测试、或电容式传感器测试技术领域，采用周期/电压信息转换的方法，即采用周期/电压信息转换、采样、处理的测试电路对微小电容进行测试的方法，思路独特，具有许多优点，测试电路包括电容充放电电路和数据采集存储电路，电容充放电电路包括一个电压比较电路、一个RC振荡电路和一个电压跟随电路，测量电路相互紧密联系又互相制约控制，形成复杂因果关系，测试精度高，保障了微小电容测量的精确性，设计电路选择一个双运放的芯片构成核心电路，芯片较少，故体积小，相比传统电容测量电路，其原理简单、功能强大，降低了功耗和测量的成本，本发明的微小电容的测试方法值得采用和推广。 | ||
| 搜索关键词： | 微小 电容 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种微小电容的测试方法，特征在于：所述的微小电容的测试方法是采用快速变化的周期信息转换为电压信息的方法对微小电容进行测试的方法。
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