[发明专利]一种基于准光学谐振腔的介质材料介电性能变温测量装置无效
申请号: | 201110344372.2 | 申请日: | 2011-11-04 |
公开(公告)号: | CN102435863A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | 郭高凤;李恩;聂瑞星;王益;张庆彪;高源慈;陶冰洁 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基于准光学谐振腔的介质材料介电性能变温测量装置,属于微波、毫米波介电材料介电性能测试领域。包括准光学谐振腔、感应加热控制装置、感应加热圈、真空炉腔、循环水冷系统和矢量网络分析仪;准光学谐振腔为由球面镜和平面镜组成的平凹腔,准光学谐振腔通过两个耦合孔,经波导、同轴电缆和矢量网络分析仪连接,形成测试回路。本发明综合运用感应加热技术、循环水冷技术和真空技术,使得本发明在采用准光学谐振腔测试法对介质材料介电性能进行变温测量时,具有加热效率高、可变温度范围宽(测量温度可达2000℃以上),且在保证测量精度条件下能够长期稳定工作而不会造成光学谐振腔的氧化或其他损伤。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光学 谐振腔 介质 材料 性能 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种基于准光学谐振腔的介质材料介电性能变温测量装置,包括准光学谐振腔(1)、感应加热控制装置(2)、感应加热圈(3)、真空炉腔(4)、循环水冷系统(5)和矢量网络分析仪(6);其特征在于:所述准光学谐振腔(1)采用由球面镜(11)和平面镜(12)组成的平凹腔结构,其中球面镜(11)固定于真空炉腔(4)的上部空间,平面镜(12)固定于真空炉腔(4)的下部空间;所述球面镜(11)上有具有两个耦合孔(111、112),准光学谐振腔(1)通过两个耦合孔(111、112),经波导、同轴电缆和矢量网络分析仪(6)连接,形成测试回路;所述平面镜(12)周围上方具有金属套筒(13),套筒(13)的高度以不影响准光学谐振腔的品质因素为准;所述感应加热圈(3)采用紫铜管制作,固定于真空炉腔(4)的下部空间,使得平面镜(12)位于感应加热圈(3)的内部;感应加热圈(3)的两端穿过真空炉(4)的侧壁与所述加热控制装置(2)实现电相连、同时与所述循环水冷系统(5)连接以实现一个循环水冷回路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110344372.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。