[发明专利]光掩模坯料和制造方法、光掩模、光图案曝光方法和过渡金属/硅基材料膜的设计方法有效

专利信息
申请号: 201110348752.3 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN102402117A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 吉川博树;稻月判臣;小板桥龙二;金子英雄;原口崇;小岛洋介;广濑智一 申请(专利权)人: 信越化学工业株式会社;凸版印刷株式会社
主分类号: G03F1/00 分类号: G03F1/00;G03F1/82;G03F1/32
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李跃龙
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种光掩模坯料和制造方法、光掩模、光图案曝光方法和过渡金属/硅基材料膜的设计方法。本发明特别涉及一种光掩模坯料,其具有过渡金属/硅基材料的膜,该过渡金属/硅基材料包含过渡金属、硅、氧和氮,具有至少3原子%的氧含量,并满足式:4×CSi/100-6×CM/100>1,其中CSi是以原子%计的硅含量和CM是以原子%计的过渡金属含量。
搜索关键词: 光掩模 坯料 制造 方法 图案 曝光 过渡 金属 基材 设计
【主权项】:
一种光掩模坯料,包含透明衬底和设置在衬底上的包含过渡金属、硅、氧和氮的材料的过渡金属/硅基材料膜,其中所述过渡金属/硅基材料膜具有至少3原子%的氧含量,并且由如下构成:满足下式(1)的过渡金属/硅基材料层:4×CSi/100‑6×CM/100>1    (1)其中CSi是以原子%计的硅含量,CM是以原子%计的过渡金属含量,具有至少两个叠置的这种层的多层结构,或者远离该衬底设置且厚度至多10nm的表面氧化的层与这种层或多层结构的组合。
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