[发明专利]RFCMOS射频相关性噪声的模型有效

专利信息
申请号: 201110352944.1 申请日: 2011-11-09
公开(公告)号: CN102521426A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 黄景丰 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种RFCMOS射频相关性噪声的模型,在BSIM模型中的MOS晶体管电路的基础上增加了噪声源电路,噪声源电路包括:栅极感应噪声电流源、栅极漏电流散弹噪声电流源、栅极寄生电阻热噪声电压源、源极寄生电阻热噪声电压源、漏极寄生电阻热噪声电压源、沟道热噪声电流源、源极衬底寄生二极管散弹噪声电流源、漏极衬底寄生二极管散弹噪声电流源、衬底网络寄生电阻热噪声电压源。本发明中包含有栅极感应噪声及其与沟道噪声的相关性,使模型更符合物理,从而能提高射频噪声的仿真度。
搜索关键词: rfcmos 射频 相关性 噪声 模型
【主权项】:
一种RFCMOS射频相关性噪声的模型,其特征在于,RFCMOS射频相关性噪声的模型在BSIM模型中的MOS晶体管电路的基础上增加了噪声源电路,所述噪声源电路包括:栅极感应噪声电流源、栅极漏电流散弹噪声电流源、栅极寄生电阻热噪声电压源、源极寄生电阻热噪声电压源、漏极寄生电阻热噪声电压源、沟道热噪声电流源、源极衬底寄生二极管散弹噪声电流源、漏极衬底寄生二极管散弹噪声电流源、衬底网络寄生电阻热噪声电压源。
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