[发明专利]基于标准尺的大尺寸高精度测量的方法和装置无效
| 申请号： | 201110360397.1 | 申请日： | 2011-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN103105110A | 公开（公告）日： | 2013-05-15 |
| 发明（设计）人： | 刘红旗;张敬彩;李秀明 | 申请（专利权）人： | 中机生产力促进中心 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100044*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明是面向现场应用的基于标准尺的大尺寸、高精度测量的方法和装置。为解决大尺寸标准尺的温度影响，采用两种膨胀系数不同(一大、一小)的材料制成两把标准尺，把它们一端固定在一起，让另一端自由膨胀。把两个标准尺安装在测量装置中，当温度变化时，利用测量装置中的测量头测量两标准尺膨胀后的尺寸差，并依此对标准尺长度进行精确的修正。基于该长度和测量头的小尺寸精密测量，实现大尺寸的高精度测量。该测量方法和装置，能够在加工现场实现测量，可对温度变化所引起的尺寸变化进行精确修正。该检测装置重量轻、装调方便、成本低，而且测量范围大，测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 标准 尺寸 高精度 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
基于标准尺的大尺寸高精度测量的方法和装置是采用两种膨胀系数不同(一大、一小)的材料制成标准尺，把它们一端固定在一起，让另一端自由膨胀，温度变化时可测得两标准尺膨胀后的尺寸差，并依此对标准尺长度进行精确的修正，其特征在于基于标准尺长度和测量头的小尺寸精密测量，实现大尺寸的高精度测量。
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