[发明专利]用两个正交正弦光栅实现快速调制度测量轮廓术的方法无效

专利信息
申请号: 201110361261.2 申请日: 2011-11-15
公开(公告)号: CN102519393A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 苏显渝;窦蕴甫;向立群;曹益平;张启灿;刘元坤;陈文静 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610065 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明是光学三维传感技术中利用相隔一定间距的两个正交正弦光栅实现快速调制度测量轮廓术的方法。将两个相隔一定间距且正交的正弦光栅同时成像在被测物体上,并使被测物体位于两个光栅成像面之间,CCD相机通过一个半透半反镜从同一个方向获取受到正交光栅调制的物体表面图像。采用傅里叶变换、空间频域滤波和逆傅里叶变换,将正交光栅图像分离,从而得到两个光栅像在物体表面的调制度分布,利用事先标定得到的调制度比值和高度的对应关系恢复出物体高度。该方法中,光栅投影方向和CCD相机成像方向同轴,具有垂直测量的特点。该方法只需采集一幅图像,即可恢复出物体高度,具有三维信息实时采集的特点。
搜索关键词: 两个 正交 正弦 光栅 实现 快速 调制 测量 轮廓 方法
【主权项】:
一种用两个正交正弦光栅实现快速调制度测量轮廓术的方法,其特征在于,将两个有一定间距的正交正弦光栅同时投影在被测物体上,并使被测物体位于两个光栅投影像面之间,CCD相机通过一个半透半反镜从同一个方向获取受到正交光栅调制的物体表面图像,采用傅里叶变换、空间频域滤波和逆傅里叶变换,将正交光栅图像分离,而得到两个光栅像在物体表面的调制度分布,该调制度分布曲线具有 X 交叉的性质,利用其比值和高度的对应关系可以重建物体三维面形。
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