[发明专利]压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法无效

专利信息
申请号: 201110361967.9 申请日: 2011-11-15
公开(公告)号: CN103105546A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 陈聪渊;侯贵智;蒋文凯 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法,该压降测试系统的Labview开发平台运行时,各测试数据通过通讯链路传递到PLD测试仪,PLD测试仪测试完把测试结果反馈到Labview开发平台,该Labview开发平台利用其自带的函数库实时对传递数据进行处理、分析得到该测试完成的压降测试图框。通过该测试完成的压降测试图框,用户很容易得知该待测电子设备的压降测试情况。因此,本发明的压降测试系统方便的将软件硬件系统和软件控制算法建立在一个图形化平台上,通过图形化的操作,大大的简化了软硬件投入,实现了电子设备压降测试的自动化,大大节省了成本开支且提高了测试效率。
搜索关键词: 测试 系统 控制 装置 及其 方法
【主权项】:
一种压降测试系统,其用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试,该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪及一Labview开发平台之间,其特征在于,该Labview开发平台提供一压降测试图框,该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域,所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域;该压降测试系统包括:一参数载入模块,用于响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内;一数据传输模块,用于将该压降测试图框中各个测试参数区域内的测试数据分组的传输到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试,每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间;一判断模块,用于当该数据传输模块传输一组测试数据到该PLD测试仪测试时,判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号;一结果标识模块,用于当该预定时间内接收到该电压信号时,在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过;当该预定时间内没有接收到该电压信号时,在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败;及一输出控制模块,用于将各测试结果输出显示于该压降测试图框中;其中,当该判断模块在该预定时间内接收到来自该PLD测试仪的电压信号时,该数据传输模块传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪测试。
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