[发明专利]能量、动量二维解析的高分辨电子能量损失谱仪有效
申请号: | 201110366653.8 | 申请日: | 2011-11-18 |
公开(公告)号: | CN103123325A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 曹彦伟;杨芳;郭沁林;郭建东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种能量、动量二维解析的电子能量损失谱仪。本发明解决了电子束源与角分辨电子能量分析器的高分辨率、高信号强度匹配问题。本发明提出的装置包括灵活的电子束源、角分辨模式出射透镜、角分辨电子能量分析器等。本发明是利用角分辨电子能量分析器来分析EELS中的低能非弹性散射电子束;将电子源的灵活性与优异单色化功能、角分辨模式透镜系统对电子束的良好平行汇聚功能、角分辨电子能量分析器对能量和动量的双重解析功能结合在一起,可以同时对非弹性散射电子的动量和能量进行二维解析,得到电子能量损失谱I(E,k),从而为精确测定表面元激发的完整信息提供测量方法。 | ||
搜索关键词: | 能量 动量 二维 解析 分辨 电子 损失 | ||
【主权项】:
一种能量、动量二维解析的高分辨电子能量损失谱仪包括:低能电子源单元,发射低能单色电子束;角分辨模式出射透镜单元,将所述低能电子源单元出射的电子束聚焦为发散角小于0.5°的低能入射电子束,并将该低能入射电子束照射至样品;角分辨电子能量分析单元,接收由所述样品散射的非弹性散射电子,并对非弹性散射电子的电子能量和动量进行二维解析;信号采集和处理单元,采集经过所述角分辨电子能量分析单元解析的信号并进行处理,从而得到损失谱I(E,k)。
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