[发明专利]辉度测量系统有效
| 申请号： | 201110367806.0 | 申请日： | 2011-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN102506997A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 孙加亮;周玉生;包昀鑫;董满祥 | 申请（专利权）人： | 亿利资源集团有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/04;G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 程殿军 |
| 地址： | 100031 北京市西城区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辉度测量系统，其包括有支撑平台与设于支撑平台上的测量主体，该测量主体内设有待测样品，该测量主体一端设有安装于该支撑平台上的用以测量待测样品辉度的辉度计，该测量主体另一端设有安装于支撑平台上的用于对待测样品进行照射的标准光源，该测量主体外部设置温控装置，该辉度计通过RS232接口与计算机连接。本发明的辉度测量系统具有可移动、距离可调、温度可控、试样换取方便及数据实时采集等优点，并能提高高分子材料的辉度测量准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种辉度测量系统，其特征在于，其包括有支撑平台与设于支撑平台上的测量主体，该测量主体内设有待测样品，该测量主体一端设有安装于该支撑平台上的用以测量待测样品辉度的辉度计，该测量主体另一端设有安装于支撑平台上的用于对待测样品进行照射的标准光源，该测量主体外部设置温控装置，该辉度计通过RS232接口与计算机连接。
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