[发明专利]一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路

摘要

本发明涉及一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其包括电源、偏置放大电路、变压器、检测线圈和反馈电路，采用变压器耦合反馈振荡电路产生正弦波，将检测线圈中主边线圈与一电容串联所构成的LC振荡回路作为选频网络，并将DAC加在反馈回路中，精准的调节正弦波振幅的反馈强度，检测线圈还包括主边线圈与副边线圈，主边线圈不与电路连接，副边线圈绕制在主边线圈的外表面，其与电路连接；反馈电路是由单片机控制的DAC数字芯片输出端与两级相串联的运算放大器及外围电路连接后再与偏置放大电路中三极管的发射级相连接。本发明的高精度微小颗粒金属检测DDS电路抗干扰能力强，金属检测处于最佳灵敏区，检测精度高，稳定性好。

主权项

一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，包括电源、偏置放大电路、变压器、检测线圈和反馈电路，其特征在于：所述反馈电路连接偏置放大电路，所述的偏置放大电路连接变压器的初级绕组；检测线圈包括主边线圈与副边线圈，副边线圈绕在主边线圈的外表面，检测线圈的主边线圈与一电容串联所构成的LC振荡回路作为选频网络，变压器次级绕组与检测线圈中副边线圈的连接后接入反馈电路；所述的偏置放大电路包括偏置电路与放大电路，所述的偏置电路包括电阻R1、R2和R3，所述的放大电路包括三极管Q1和外围电路，所述的电阻R1一端接电源正极，所述电阻R1的另一端接R2的一端，所述R2的另一端接电源负极，所述R3的一端接电源负极，所述R3的另一端接三极管Q1的发射极；所述三极管Q1的基极接所述R2的一端，所述三极管Q1的集电极接所述变压器的初级绕组；所述反馈电路是由单片机控制的DAC数字芯片输出端与两级相串联的运算放大器及外围电路连接后再与偏置放大电路中三极管Q1的发射极相连接。