[发明专利]天基探测与跟踪成像系统测试装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 201110370922.8 申请日: 2011-11-21
公开(公告)号: CN102393213A 公开(公告)日: 2012-03-28
发明(设计)人: 田留德;张周峰;薛勋;赵建科;赛建刚;曹昆;周艳 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 徐平
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种天基探测与跟踪成像系统测试装置及测试方法。其测试装置包括气浮台(1)、高精度动靶标(4)、搭载于高精度动靶标上用以提供无穷远拍摄目标的平行光管、以及安装于气浮台(1)上的角速度测量装置;天基探测与跟踪成像系统作为被测系统(5)同轴固定安装于气浮台(1)的转动台面上,且被测系统的三轴交点为高精度动靶标(4)旋转光锥顶点;转动平台沿其切线方向栓接牵引线并通过绕接定滑轮悬挂砝码(2),利用砝码自重对转动平台施加切向力。本发明实现了对天基探测与跟踪成像系统多个重要性能指标的测试,从而进行进一步的调整和优化,保证产品的质量,确保天基探测与跟踪成像系统质量和在轨正常运行。
搜索关键词: 探测 跟踪 成像 系统 测试 装置 方法
【主权项】:
天基探测与跟踪成像系统的测试装置,包括气浮台(1)、高精度动靶标(4)、搭载于高精度动靶标上用以提供无穷远拍摄目标的平行光管、以及安装于气浮台(1)上的角速度测量装置;天基探测与跟踪成像系统作为被测系统(5)同轴固定安装于气浮台(1)的转动台面上,且被测系统的三轴交点为高精度动靶标(4)旋转光锥顶点;转动平台沿其切线方向栓接牵引线并通过绕接定滑轮悬挂砝码(2),利用砝码自重对转动平台施加切向力。
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