[发明专利]超声速PIV流场测试实验中布撒示踪粒子的方法及装置无效

专利信息
申请号: 201110372052.8 申请日: 2011-11-21
公开(公告)号: CN102435769A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 刘洪;陈方;荣臻;张亚 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01P5/20 分类号: G01P5/20
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 叶敏华
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及超声速PIV流场测试实验中布撒示踪粒子的方法及装置,在超声速风洞高温高压大流量流场环境下利用真空吸入实现示踪粒子加注,实验前示踪粒子贮存在粒子发生器内,在开启注入气流后气流与示踪粒子充分混合经高压管路并经粒子布撒器布撒后进入风洞管路,高马赫数来流条件下示踪粒子布撒均匀,通过粒子图像测速系统对示踪粒子进行测试。与现有技术相比,本发明,实现了在高温高压大流量流场环境条件下PIV示踪粒子的加注和均匀布撒,有效避免了示踪粒子在注入过程中可能发生的聚团现象,保证了PIV系统以及风洞运行之间精确的时序控制确定了满足PIV运算要求的布撒浓度所对应的测试方案。
搜索关键词: 超声速 piv 测试 实验 中布撒示踪 粒子 方法 装置
【主权项】:
超声速PIV流场测试实验中布撒示踪粒子的方法,在超声速风洞高温高压大流量流场环境下利用真空吸入实现示踪粒子加注,其特征在于,该方法包括以下步骤:实验前示踪粒子贮存在粒子发生器内,在开启注入气流后气流与示踪粒子充分混合经高压管路并经粒子布撒器布撒后进入风洞管路,高马赫数来流条件下示踪粒子布撒均匀,通过粒子图像测速系统对示踪粒子进行测试。
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