[发明专利]一种X射线荧光光谱仪的测量设置结构无效
| 申请号： | 201110372289.6 | 申请日： | 2011-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN102507625A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 戴挺;杨立新;周怡君;徐随山;杜曙威 | 申请（专利权）人： | 南京华欣分析仪器制造有限公司;东南大学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人： | 黄明哲 |
| 地址： | 211300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种X射线荧光光谱仪的测量设置结构，光谱仪包括X射线管和探测器，X射线管与样品间入射角为α，探测器与样品间出射角为β，α和β的范围为45°～55°，X射线管的发射端与样品入射点的间距d1为1～1.2cm，样品入射点与探测器接收端的间距d2为1.1～1.6cm。本发明优化设计了X射线管、样品和探测器之间的结构，降低了X射线荧光光谱分析中的散射背景，提高特征X射线全能峰的峰背比，以便降低测量系统的检出限。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 光谱仪 测量 设置 结构 | ||
【主权项】：
一种X射线荧光光谱仪的测量设置结构，其特征是光谱仪包括X射线管和探测器，X射线管与样品间入射角为α，探测器与样品间出射角为β，α和β的范围为45°～55°，X射线管的发射端与样品入射点的间距d1为1～1.2cm，样品入射点与探测器接收端的间距d2为1.1～1.6cm。
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