[发明专利]一种集成传感器RFID系统及该系统混合模式接口性能测试方法

摘要

本发明公开了一种集成传感器RFID系统及该系统混合模式接口性能测试方法，通过在集成传感器RFID系统混合模式接口上连接逻辑分析套件，包括LA_Probe_E测量线、LA6000逻辑分析仪、主机，接口传输信号经测量线、逻辑分析仪、主机，由上位机软件解码获得接口传输信号特征，与信号传输协议作校验获得混合模式接口即插即用性能参数，其次通过对混合模式接口总线上的主机接口和传感器模块接口分别进行静电放电破坏性试验，并采用即插即用有效性测试方法重新进行独立通讯与联合通讯质量检测，获得混合模式接口的热插拔性能评价结果。该方法所测试的混合模式接口性能指标主要包括：即插即用速度、即插即用成功率、热插拔成功率；上述性能指标能够监测混合模式接口即插即用有效性与可靠性，符合集成智能传感器RFID系统发展趋势所需的接口性能测试要求。

主权项

一种集成传感器RFID系统混合模式接口性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：根据单个待测传感器挂接在1‑wire总线上时的接口性能测试要求，将单个待测传感器通过混合模式接口与集成传感器RFID设备连接；通过逻辑分析仪采集待测传感器接入过程中混合模式接口数字信号，并对该数字信号进行译码处理；将译码信号与智能传感器混合模式接口标准中数字信号传输协议作校验，获得混合模式接口即插即用性能参数，并根据1‑wire总线识别URN及读TEDS过程中的命令序列，判断混合模式接口即插即用是否正常；对于正常实现混合模式接口即插即用的设备，对译码后信号进行即插即用识读时间测量；对满足即插即用识读成功率测试的混合模式接口进行可靠性测试。