[发明专利]闪存存储器的位线控制电路无效

专利信息
申请号: 201110376872.4 申请日: 2011-11-23
公开(公告)号: CN103137204A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 金建明;姚翔 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G11C16/24 分类号: G11C16/24
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 孙大为
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种闪存存储器的位线控制电路;包括:相邻两个存储单元A和B;存储单元A和B的位线分别为BL1和BL2;存储单元A和B共有的源极信号线SL;存储单元A和B共有的SONOS线和字线分别为WLS和WL;位线写控制电路D,晶体管M10和晶体管M11控制BL1;晶体管M12和晶体管M13控制BL2;字线译码及驱动电路C;在VNEG进入M11及M13之前加入一个N型晶体管M14,晶体管M14的漏极、栅极、源极和衬底分别接VNEG_C、VNEG_HALF、VNEG和VNEG;VENG_C接至M11和M13的漏极;由VNEG_HALF的电位决定VNEG是否进入位线。本发明的选择管处于开启状态时,位线信号从编程电压断开,当选择管关闭时,位线信号才正确连接至编程电压,从而改善电荷泵启动过程中位线间漏电流的情况。
搜索关键词: 闪存 存储器 控制电路
【主权项】:
一种闪存存储器的位线控制电路;包括:相邻两个存储单元A和B;存储单元A和B的位线分别为BL1和BL2;存储单元A和B共有的源极信号线SL;存储单元A和B共有的SONOS线和字线分别为WLS和WL;位线写控制电路D,晶体管M10和晶体管M11控制BL1;晶体管M12和晶体管M13控制BL2;字线译码及驱动电路C;其特征在于,在晶体管M11及晶体管M13之前加入一个N型晶体管M14,晶体管M14的漏极、栅极、源极分别接负位线控制晶体管的域值电压VNEG_C、负高压信号VNEG_HALF、负高压信号VNEG,其衬底接负高压信号VNEG;位线控制晶体管的域值电压VENG_C接至晶体管M11和晶体管M13的漏极;由负高压信号VNEG_HALF的电位决定负高压信号VNEG是否进入位线。
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