[发明专利]测试模块、测试方法以及测试系统无效
申请号: | 201110383835.6 | 申请日: | 2011-11-28 |
公开(公告)号: | CN102749531A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 王景正;石俊杰 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人: | 于淼;张一军 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种测试模块、测试方法以及测试系统。所述测试模块,用以针对待测装置来产生模拟测试信号,包括:控制电路、核心电路和连接器。所述核心电路耦接至所述控制电路,用以在所述控制电路的控制之下产生所述模拟测试信号。所述连接器耦接至所述核心电路,用以接收由所述核心电路所产生的所述模拟测试信号,并输出所接收的所述模拟测试信号。本发明所公开的测试模块、测试方法以及测试系统具有较低的功能测试成本、较高的模拟测试信号的信号品质、较小的被占用的电路面积以及较高的便利性/弹性。 | ||
搜索关键词: | 测试 模块 方法 以及 系统 | ||
【主权项】:
一种测试模块,用以针对待测装置来产生模拟测试信号,其特征在于,包括:控制电路;核心电路,耦接至所述控制电路,用以在所述控制电路的控制之下,产生所述模拟测试信号;以及连接器,耦接至所述核心电路,用以接收由所述核心电路所产生的所述模拟测试信号,并输出所接收的所述模拟测试信号。
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