[发明专利]一种消除沟槽顶端尖角的方法有效

专利信息
申请号: 201110389017.7 申请日: 2011-11-30
公开(公告)号: CN103137483A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 徐俊杰;陈正嵘 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王函
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种消除沟槽顶端尖角的方法,包括如下步骤:1,ONO成长;2,ONO刻蚀;3,沟槽刻蚀:用ONO作为硬质掩膜进行干法刻蚀;4,横向湿法刻蚀硬质掩膜的中间氮化硅,要求完全露出沟槽顶端的尖角;5,全面刻蚀硬质掩膜上面残留的顶层氧化膜,同时横向刻蚀硬质掩膜的底层氧化膜;6,对沟槽底部进行沟槽同向刻蚀,同时对顶端的尖角进行横向和纵向刻蚀,减小顶端的尖角;7,在沟槽内生长一层牺牲氧化层,沟槽顶端尖角被完全氧化,尖角消失;8,牺牲氧化层湿法刻蚀;氮化硅湿法刻蚀,保留部分氮化硅作为HDP化学机械研磨的阻挡层。本发明能消除沟槽顶端尖角,确保后续HDP能够无孔填充沟槽。
搜索关键词: 一种 消除 沟槽 顶端 方法
【主权项】:
一种消除沟槽顶端尖角的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1,ONO成长:在硅衬底的硅外延层上自下而上依次生长底层氧化膜、中间氮化硅和顶层氧化膜,形成ONO结构;步骤2,ONO刻蚀:带胶干法刻蚀,过刻蚀硅外延层;步骤3,沟槽刻蚀:用ONO作为硬质掩膜进行干法刻蚀;步骤4,湿法刻蚀氮化硅:横向刻蚀硬质掩膜的中间氮化硅,要求完全露出沟槽顶端的尖角;步骤5,湿法刻蚀氧化膜:全面刻蚀硬质掩膜上面残留的顶层氧化膜,同时横向刻蚀硬质掩膜的底层氧化膜;步骤6,沟槽同向刻蚀:对沟槽底部进行沟槽同向刻蚀,同时对顶端的尖角进行横向和纵向刻蚀,减小顶端的尖角;步骤7,牺牲氧化处理:在沟槽内生长一层牺牲氧化层,由于沟槽顶端尖角处氧化速度较快,因此顶端的尖角被完全氧化,尖角消失;步骤8,湿法刻蚀:牺牲氧化层湿法刻蚀,氮化硅湿法刻蚀,保留部分氮化硅作为HDP化学机械研磨的阻挡层。
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