[发明专利]一种试验表构造的方法、一种测量电磁特性的方法及其装置有效

专利信息
申请号: 201110390947.4 申请日: 2011-11-30
公开(公告)号: CN103135004B 公开(公告)日: 2016-03-09
发明(设计)人: 刘若鹏;季春霖;刘斌;易翔 申请(专利权)人: 深圳光启高等理工研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种试验表构造的方法、测量电磁特性的方法及其装置,所述方法包括:根据影响因素以及因素的水平数,确定正交表的行列数;采用正交设计方法构造所述正交表前两列的内容,定义所述内容所形成的矩阵为L1;采用均匀设计方法构造偏差最小的均匀设计表的内容;采用顺时针轮换法将所述偏差最小的均匀设计表的内容构造成与所述L1相匹配的矩阵L2;结合矩阵L1和L2的内容,完成多因素正交表的构造;根据所述多因素正交表来对所构造的人工电磁材料中各个试验点进行仿真测量,得到电磁材料结构单元的电磁特性数据。通过上述方式,本发明能够在尽量用较少的试验次数的同时,保证所选择的试验点均匀分散,更具有空间代表性。
搜索关键词: 一种 试验 构造 方法 测量 电磁 特性 及其 装置
【主权项】:
一种测量人工电磁材料结构单元的电磁特性的方法,其特征在于,包括:根据试验影响因素的个数s以及每个因素的水平数q,确定正交试验表的行数q2和列数s;根据正交试验表的行数q2和列数s,采用正交试验设计方法构造所述正交试验表前两列的内容,定义所述正交试验表前两列的内容所形成的矩阵为矩阵L1;根据所述水平数q,采用均匀试验设计方法构造偏差最小的均匀试验设计表的内容;采用顺时针轮换法或逆时针轮换法将所述偏差最小的均匀试验设计表的内容构造成与所述矩阵L1相匹配的矩阵L2;结合所述矩阵L1和矩阵L2的内容,完成基于均匀试验设计的多因素正交试验表的构造;根据所述多因素正交试验表来对所构造的人工电磁材料中各个试验点进行仿真测量,得到电磁材料结构单元的电磁特性数据。
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