[发明专利]一种面向多性能参数的数控装备性能可靠性评估方法无效
申请号: | 201110391527.8 | 申请日: | 2011-11-30 |
公开(公告)号: | CN102520669A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 邓超;邵新宇;吴军;熊尧;王远航 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G05B19/18 | 分类号: | G05B19/18 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李佑宏 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种面向多性能参数的数控装备性能可靠性评估方法,包括收集的多项性能参数退化数据,计算各项性能之间的协方差,判断各性能参数的相关性;然后采用最小二乘支持向量机训练得到以时间和数控装备性能参数为输入和输出的最优非线性回归函数,即性能参数的退化轨迹函数;进而利用性能参数的退化轨迹函数计算出其临界失效寿命时间,并拟合临界失效寿命时间的概率分布函数,从而得到数控装备的可靠度。本发明能够在小样本条件下准确地评估与预测数控装备的性能可靠性,综合考虑多个性能参数对数控装备可靠性的影响,找出数控装备的薄弱环节,提高了可靠性评估的准确性和高效性。 | ||
搜索关键词: | 一种 面向 性能参数 数控 装备 性能 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】:
一种面向多性能参数的数控装备性能可靠性分析方法,具体包括如下步骤:(1)首先采集k个数控装备在时刻ti的j个性能参数值yijk,其中,k=1,2,…,L,i=1,2,…,n,j=1,2,…,m,L为被观测数控装备的个数,n为测量的次数,m为测量的性能参数的个数,并建立性能参数退化量数据集Y=(y1(t),y2(t),…,yj(t),…,ym(t)),Y由m个随机变量组成,其中yj(t)为性能参数j在时刻t的观测数据集,即yj(t)={(x0,y0)|x0=ti,y0=yijk,i=1,2,…n,k=1,2,…L};(2)计算性能参数数据集Y中各性能参数之间的相关性,得到相互独立的性能参数的个数p,以及性能参数不相互独立的个数q;(3)分别针对相互独立的性能参数以及不相互独立的性能参数,拟合性能参数的退化轨迹,计算性能参数达到其规定阈值的可靠度和联合可靠度;(4)根据相互独立的单一性能参数可靠度和不相互独立的多性能参数的联合可靠度,计算出数控装备的可靠度和概率分布函数,即实现对数控装备性能的可靠性评估。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110391527.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于绝缘子串振动试验的试验系统
- 下一篇:GPS模块防水测试装置