[发明专利]吸收测量系统有效
| 申请号： | 201110393790.0 | 申请日： | 2011-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN102486458A | 公开（公告）日： | 2012-06-06 |
| 发明（设计）人： | 拉尔夫·伯恩哈特;阿希姆·加尔 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 戚传江;穆德骏 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明描述了一种能够灵活地在大测量范围之上使用，以测量在它的吸收行为中反映的、介质的至少一种性质，特别是诸如介质吸收系数(μ)的性质的吸收测量系统。该吸收测量系统包括：在测量操作中填充有介质的测量腔室(1)，其中能够被用作测量路径(M)并且具有不同长度(L)的可辐射光路完全地穿过介质延伸；在测量操作中穿过测量腔室(1)沿着测量路径(M)发射辐射的发射单元(3)；接收在测量路径(M)上穿过测量腔室(1)的辐射，并且测量其依赖于介质性质和测量路径长度(L)的辐射强度(I)的测量和接收单元(5)；以及基于测量辐射强度(I)和测量路径(M)的长度(L)来确定所述性质的测量电子设备(7)。 | ||
| 搜索关键词： | 吸收 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种吸收测量系统，用于测量在介质吸收行为中反映的、介质的至少一种性质，特别是诸如介质吸收系数(μ)的性质，包括：‑在测量操作中填充有介质的测量腔室(1)；‑‑在所述测量腔室中，能够被用作测量路径(M)并且具有不同长度(L)的可辐射光路完全地穿过介质延伸；‑在测量操作中穿过测量腔室(1)沿着测量路径(M)发射辐射的发射单元(3)；‑测量和接收单元(5)，‑‑所述测量和接收单元接收在测量路径(M)上穿过测量腔室(1)的辐射并且测量其依赖于介质性质和测量路径长度(L)的辐射强度(I)；和‑基于测量辐射强度(I)和测量路径(M)的长度(L)来确定所述性质的测量电子设备(7)。
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