[发明专利]自测试驱动电路有效

专利信息
申请号: 201110396133.1 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN102402961A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 林能毅;刘建志 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种自测试驱动电路,其包括第一暂存器、第二暂存器及比较器。第一暂存器用以储存第一可程序化数据。第二暂存器用以储存与第一可程序化数据预设相同的第二可程序化数据。比较器用以于程序化过程的后比较第一可程序化数据以及第二可程序化数据,并于第一可程序化数据与第二可程序化数据不相同时产生一错误信号。此外,一种自测试驱动电路中的测试方法亦在此公开。
搜索关键词: 测试 驱动 电路
【主权项】:
一种自测试驱动电路,包括:一第一暂存器,用以储存一第一可程序化数据;一第二暂存器,用以储存与该第一可程序化数据预设相同的一第二可程序化数据;以及一比较器,用以于一程序化过程的后比较该第一可程序化数据以及该第二可程序化数据,并于该第一可程序化数据与该第二可程序化数据不相同时产生一错误信号。
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