[发明专利]简化的测量过程统计控制方法

摘要

本发明公开了一种简化的测量过程统计控制方法，它省去了标准偏差或极差控制图，根据标准偏差试验结果的大小，进而大大减少了实施统计控制的工作量，便于推广应用。它的步骤为：1)单次测量的标准偏差获得；利用测量设备在重复性条件下，按照选定的核查标准进行一个子组的测量，直至无异常值存在，从而获得一个子组的标准偏差；2)子组最少测量次数n的确定；3)预备数据的取得；在重复性条件下，根据步骤2)确定的子组测量次数n对选择好的核查标准作n次独立重复测量，该n次测量结果称为一个子组；4)计算初始统计控制参数；5)组内平均值的检验；6)计算统计控制参数；7)组内平均值控制界限的确定和控制图的建立。

主权项

1.一种简化的测量过程统计控制方法，其特征是，它的步骤为：1)单次测量的标准偏差获得；利用测量设备在重复性条件下，按照选定的核查标准进行一个子组的测量，直至无异常值存在，从而获得一个子组的标准偏差；2)子组最少测量次数n的确定；根据组内平均值的标准偏差组内平均值的标准偏差与控制界限的关系至少应满足：2sx‾≤13]]>控制界限取被控制计量标准或测量设备控制点的最大允许误差作为平均值控制界限，则组内平均值的标准偏差与被控制控制标准或测量设备的最大允许误差的绝对值MPEV应满足如下关系：2sx‾≤13MPEV]]>从更严的要求考虑，将上述关系调整为：2sx‾≤15MPEV]]>即2spn≤15MPEV]]>于是n≥(10spMPEV)2---(1)]]>若取被控制计量标准或测量设备控制点的扩展不确定度U₉₅作为平均值控制界限目标，同样的道理得到：n≥(10spU95)2---(2)]]>子组最少测量次数n取整数，只进不舍；3)预备数据的取得；在重复性条件下，根据步骤2)确定的子组测量次数n对选择好的核查标准作n次独立重复测量，该n次测量结果称为一个子组；4)计算初始统计控制参数；计算组内平均值x‾j=1nΣi=1nxi---(3)]]>式中：n——子组测量次数；x_i——第i次测量值；分别按式(4)和(5)计算m组数据的组内平均值的平均值和组间标准差s_Bx==1mΣj=1mx‾j---(4)]]>sB=1m-1Σj=1m(x‾j-x=)2---(5)]]>式中：m——测量组数；——第j组的组内平均值；5)组内平均值的检验；对获得的m组预备数据，在计算最终的组内平均值的平均值和组间标准差前，应先对各组的组内平均值进行检验；若满足则该组内平均值异常，异常的一组数据可剔除掉；重新计算剩余的m-1组数据的组内平均值的平均值和组间标准差s_B，再进行检验，直至无异常的组内平均值存在；如果MPEV与3S_B的比值MPEV/3S_B和MPEV与子组平均值极差的比值MPEV/R均大于1，该值可不剔除；同样，如果U₉₅与3S_B的比值(U₉₅/3S_B)和U₉₅与子组平均值极差的比值(U₉₅/R)均大于1，该值也可不剔除；6)计算统计控制参数；将获得的m组预备数据，经过步骤5)对组内平均值的检验，剔除掉所有异常的各组数据，对剩余的数据重新分别按式(4)和(5)计算新的组内平均值的平均值和组间标准差s_B；7)组内平均值控制界限的确定和控制图的建立；以组内平均值的平均值为中心线CL，以为控制上限UCL，以为控制下限LCL，对组内平均值进行统计控制。